System Architecture

システム構成とデータフロー

テスタ群・上位システムから取得したWaferテストデータ、ファイナルテストデータ、メタ情報を蓄積し、 Client側で高速に解析・可視化する構成です。

KAI_Analysis_Server_System:Parser、解析エンジン、DB、解析ルール、アラーム通知、Client連携の全体構成
半導体テストシステム、MES、KAIAnalysis Server、KAI Analysis Tool間の連携概要

Server:収集・蓄積・連携

KAI_Analysis_Server_Systemは、Tester、Prober、Handler、MESなどの上位系からデータを取得し、 検証・整形・欠損処理を経てデータベースへ格納します。

Client:解析・可視化

KAI_Analysis_Tool_Clientは、DBから大量データを高速取得して解析処理と可視化を実施します。 STDFなどのテストデータファイルを直接読み込み、単体解析する運用にも対応します。

データフロー

取得 → 前処理 → DB格納(シャーディング) → 解析(統計・相関・空間・時系列) → 可視化(マップ・分布・管理図) → 通知 → 上位系連携 → アーカイブ/削除。

アラーム・上位連携

異常検知時のアラート通知、解析結果の上位系送信により、工程・装置へのフィードバックを早めます。