KAI解析システム

半導体デバイスの大規模テストデータを高速に解析し、品質向上、異常検出、歩留まり改善を支援

主な特徴

高速

大量データでも実用速度で処理。

拡張性

モジュール追加・機能追加が容易。

セキュア

ライセンス管理/認証/アクセス制御に対応。

システム構成

システム構成図

KAI解析システムはKAI ServerとKAI Analysis Toolから構成されています。

KAI Serverは主にテスタからのテストデータを逐次受信し内部データベースに登録していきます。 KAI Serverではデータを解析し、テスタの測定異常・不具合、製品の特性異常、装置の異常の早期検知などを 行い、異常発報や装置停止などを行います。

KAI解析ツールはKAIサーバのデータベースに接続し、種々のテストデータ分析を実施します。またKAI解析ツール 単独で(KAIサーバへの接続なしで)テストデータファイル(STDF等)を読み込みテストデータ分析を行うことも 可能です。

試用版のdownload、製品購入はこちら

資料請求、デモ依頼、購入相談などの導線をここに置きます。